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扫描型亚像元成像处理对热成像系统性能改善的模拟分析 被引量:1

Simulation and analysis of thermal imaging system performance improvement based on scanning sub-pixel imaging processing
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摘要 基于光学微扫描的亚像元成像技术是当前国内外迅速发展的一种高性能成像技术,它对探测器单元数较少且探测器单元尺寸较大的热成像系统更为有效。以扫描型焦平面探测器热成像系统FC和GP为研究对象,采用热成像系统性能模拟软件包CFLIR4.0,分析了光学系统的相对孔径、过采样和亚像元成像等对热成像系统性能的影响,包括传递函数MTF、噪声等效温差NETD、最小可分辨温差MRTD以及系统的探测和识别距离。模拟分析表明:过采样成像可提高热成像系统的性能,亚像元成像处理可进一步提高热成像系统的性能,可明显地提高系统的作用距离。研究结果对亚像元热成像技术的发展具有参考意义。 Sub-pixel imaging technique based on optical microscanning is developing very fast.Sub-pixel imaging technique is more effective when it is used in thermal imaging system which has less detector units and biggish detector unit area.As aim at the FC and GP thermal imaging system based on scanning focal plane detector,using CFLIR4.0 simulation software analyses the the thermal imaging system's performanc improvement by increasing optical system relative aperture,oversample and sub- pixel imaging.The analysis includes MTF,NETD,MRTD and the system detection and recognition distance.The analysis indicates that oversample imaging system and sub-pixel imaging system can improve thermal imaging system's performance and system action distance.Research result enormously enhances the developement of sub-pixel thermal imaging technique.
作者 王春勇 金伟其 王霞 WANG Chun-yong JIN Wei-qi WANG Xia (Department of Optical Engineering,Beijing Institute of Technology,Beijing 100081,China)
出处 《光学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第4期633-635,638共4页 Optical Technique
基金 总装预研基金资助项目(NTV-2)
关键词 扫描型 焦平面探测器 热成像 过采样 亚像元成像 Scanning focal plane detector thermal imaging oversample sub-pixel imaging
作者简介 王春勇,男,北京理工大学信息科学技术学院光电工程系博士研究生,主要从事图像处理方面的研究。
  • 相关文献

参考文献7

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  • 3Catherine-FC Compact Thermal Irnager[EB/OL]. http://www. thalesgroup-opt ronics.com. 2005. 被引量:1
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  • 5金伟其 高稚允 等.一代通用组件热像仪静态性能计算机软件包SPTIS[J].光学技术,1995,:49-53. 被引量:2
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二级参考文献4

共引文献14

同被引文献12

引证文献1

二级引证文献11

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