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材料分析中合理使用各种试验研究方法(续) 预览 被引量:1

Reasonable Using Various Kinds of Test Research Methods in Material Analysis (Continued)
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摘要 3.2.2Auger电子能谱及应用 3.2.2.1Auger电子能谱 当高能电子束或X射线激发样品时,原子内壳层上电子因电离而留下一个空位,由较外层电子向这一能级跃迁使原子释放能量的过程,发射特征X射线;另一种弛豫过程是:A壳层电子电离产生空位,B壳层电子向A壳层的空位跃迁,导致C壳层的电子发射,这就ABC Auger电子发射。
作者 杨传铮 YANG Chuan-zheng (Shanghai Institute of Micrc-system and Information Technology, Chinese Academy of Science, Shanghai 200050, China)
出处 《理化检验:物理分册》 CAS 2012年第5期 345-349,共5页 Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing
作者简介 杨传铮(1939-),男,教授。
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