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用俄歇线型表征萍膜中Si的化学状态
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作者 曹立礼 雍景荫 《清华大学学报:自然科学版》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第53期26-32,共7页
关键词 俄歇线型 薄膜 SI 界面 化学状态
全文增补中
纳米晶聚合物复合薄膜PbTiO3—PEK—c的电光特性及其驰豫过程的研究 被引量:1
2
作者 任诠 马常宝 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第7期882-885,共4页
制备了掺杂纳米晶聚合物钛酸铅-聚醚醚酮(PbTiO3-PEK-c) 复合薄膜,采用简单透射技术测量了该复合薄膜的线性电光系数,并研究了该复合薄膜的电光特性的驰豫过程。
关键词 PbTiO3-PEK-c 纳米晶聚合物复合薄膜 电光特性 电光系数 驰豫过程 测量
光学 预览
3
作者 朱湘柱 曾阳素 《中国学术期刊文摘》 北大核心 2008年第7期 34-37,共4页
衍射理论公式的诠释与应用;用激光测量蔗糖溶液的旋光率及其浓度;光衍射法研究水表面波的性质;GSZF-4型迈克耳孙干涉仪传动装置的改进;菲涅耳衍射的数值计算;基于掺氧化镁周期性极化铌酸锂的光学参量产生器;多脉冲激光辐照ZF2玻... 衍射理论公式的诠释与应用;用激光测量蔗糖溶液的旋光率及其浓度;光衍射法研究水表面波的性质;GSZF-4型迈克耳孙干涉仪传动装置的改进;菲涅耳衍射的数值计算;基于掺氧化镁周期性极化铌酸锂的光学参量产生器;多脉冲激光辐照ZF2玻璃的热力效应;基于TDICCD的偏振成像系统设计;利用部分纠缠的特殊二粒子W态和部分纠缠的二粒子态传送二粒子纠缠态;利用优化理论实现量子局域纯态转化;概率性的量子态远程操作;近共振三维光学晶格中铯原子温度的参数依赖;四能级Tripod-型原子系统中量子相干导致的交叉Kerr非线性效应;新型菁类染料聚集体构筑和它的非线性光学特性研究;外磁场作用下一维光子晶体的光传输特性;非谐势阱中玻色.爱因斯坦凝聚的数值计算;单量子点微腔激光器的研究;光场作用下特殊势阱模型中的量子隧穿抑制和其物理解释;利用优化理论实现量子局域纯态转化;概率性的量子态远程操作;近共振三维光学晶格中铯原子温度的参数依赖;四能级Tripod-型原子系统中量子相干导致的交叉Kerr非线性效应;新型菁类染料聚集体构筑和它的非线性光学特性研究;外磁场作用下一维光子晶体的光传输特性;非谐势阱中玻色.爱因斯坦凝聚的数值计算;单量子点微腔激光器的研究;光场作用下特殊势阱模型中的量子隧穿抑制和其物理解释;利用恒星测量整层大气透过率;短脉冲激光辐照下SiO2损伤微观机理简化模型;强非局域介质中高斯型损耗空间光孤子;荧光再吸收对固体荧光制冷的影响;注入噪声对光纤激光器锁模启动的影响;三点式氧碘化学激光器光腔准直技术;外部流场对激光加热运动目标影响的数值模拟;双端泵浦的高功率掺Yb^3+双包层光纤激光器;变形镜波前补偿能力的空间频域分析;基于C 展开更多
关键词 光学参量 掺YB^3+双包层光纤激光器 非线性光学特性 周期性极化铌酸锂 脉冲激光辐照 一维光子晶体 爱因斯坦凝聚 迈克耳孙干涉仪
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阳极氧化铝膜孔径的测量 预览
4
作者 卢峻峰 《微纳电子技术》 CAS 2008年第12期 720-723,共4页
论述了一种对阳极氧化铝膜孔径进行测定和评估的方法。此方法通过对已得的阳极氧化铝薄膜提取样本制备扫描电镜(SEM)图像进行处理和分析,最终得到膜孔的尺寸结果。阳极氧化铝膜的膜孔尺寸处在nm级别,对其测量误差的要求很高。而限于SE... 论述了一种对阳极氧化铝膜孔径进行测定和评估的方法。此方法通过对已得的阳极氧化铝薄膜提取样本制备扫描电镜(SEM)图像进行处理和分析,最终得到膜孔的尺寸结果。阳极氧化铝膜的膜孔尺寸处在nm级别,对其测量误差的要求很高。而限于SEM的设备特性和精度,通过SEM读取的原始阳极氧化铝膜的图像存在着大量噪声(以椒盐噪声为主)。鉴于此,首先对阳极氧化铝膜的原始SEM图像进行多重滤波处理(中值滤波、各向异性扩散滤波以及阈值滤波),得到具有膜孔结构信息的阈值图像。经过多重滤波的这一阈值图像仍存在着很多污点,这些污点对阳极氧化铝膜膜孔尺寸的评估无任何意义,于是继续将阈值图像进行去污处理,最后通过设计的“染色”算法,实现了对膜孔尺寸的实际测量。实验证明,此方法的适用性较强。 展开更多
关键词 纳米膜 阳极氧化铝膜 孔径测量 扫描电镜 图像处理 染色算法
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测量金属膜粗糙度的表面等离子激元光谱方法 被引量:1
5
作者 邓里文 王恭明 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期474-480,共7页
介绍了确定金属膜表面粗糙度的表面等离子激元光谱方法。测量了二种银膜在表面等离子激元激发条件下的光散射强度分布。通过与理论计算的拟合,得到了描写这二种银膜/空气同粗糙界面的特征参数。
关键词 表面等离子激元 金属膜 粗糙度 薄膜测量
真空紫外辐射对碳/环氧复合材料性能的影响 预览 被引量:5
6
作者 姜利祥 何世禹 盛磊 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第1期 131-134,共4页
介绍了真空紫外线的模拟和射流式真空紫外辐射模拟设备的工作原理、技术参数及特点,并利用该设备及其它分析手段对环氧树脂浇铸体(EP648)和碳/环氧复合材料(C/E648)在真空紫外线辐照作用下的出气、质量损失率、层间剪切强度和表面状态... 介绍了真空紫外线的模拟和射流式真空紫外辐射模拟设备的工作原理、技术参数及特点,并利用该设备及其它分析手段对环氧树脂浇铸体(EP648)和碳/环氧复合材料(C/E648)在真空紫外线辐照作用下的出气、质量损失率、层间剪切强度和表面状态的变化进行了研究.试验结果表明:真空紫外线辐照导致材料产生明显的出气效应,质量损失率呈现先递增后趋于平缓的趋势;17 280esh辐照剂量下,EP648的质量损失是C/E648的3.4倍,C/E648的层间剪切强度与辐照前相比下降了13.3%;环氧树脂破损较重,而碳纤维表面状态基本完好,并对内部的环氧树脂起到一定的保护作用. 展开更多
关键词 真空紫外线 碳/环氧复合材料 出气 质量损失率 层间剪切强度
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薄膜特性分析技术 预览
7
作者 钟大昌 《微电子技术》 1994年第3期 22-29,共8页
本文叙述了测量和分析薄膜结构特性、机械性能和成分的各种方法。并讨论了这些性能对于在电子器件中应用薄膜的重要性。还提出了薄膜现象研究中所采用的品种比较重要的诊断技术,主要技术是确定薄膜中原子类型及其排列情况。同时介绍了... 本文叙述了测量和分析薄膜结构特性、机械性能和成分的各种方法。并讨论了这些性能对于在电子器件中应用薄膜的重要性。还提出了薄膜现象研究中所采用的品种比较重要的诊断技术,主要技术是确定薄膜中原子类型及其排列情况。同时介绍了研究薄膜组织的显微技术,讨论了如何测量薄膜的最主要的机械特性,即应力、附着力和刚度。 展开更多
关键词 薄膜 分析 特性 测量 电子显微镜
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空间电荷聚合物驻极体材料的压电效应 预览 被引量:1
8
作者 陈钢进 肖慧明 王耀翔 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第10期 1523-1526,共4页
自20世纪70年代空间电荷驻极体压电性概念被提出以来,开发新的聚合物压电材料一直是驻极体界研究的热点。这类材料的压电效应产生机制与传统的极性聚合物压电材料不同,是由于空间电荷在机械应力的作用下非对称性地向电极移动所致。本... 自20世纪70年代空间电荷驻极体压电性概念被提出以来,开发新的聚合物压电材料一直是驻极体界研究的热点。这类材料的压电效应产生机制与传统的极性聚合物压电材料不同,是由于空间电荷在机械应力的作用下非对称性地向电极移动所致。本文从理论和实验两方面,对具有闭合型或开放型空洞结构和“软”、“硬”复合有机聚合物驻极体压电膜的研究现状进行了综述,并对进一步开展这类材料的研究提出了看法。 展开更多
关键词 压电效应 聚合物驻极体 空间电荷
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双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置 被引量:1
9
作者 朱冠超 方明 +3 位作者 易葵 朱美萍 邵淑英 范正修 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期2150-2153,共4页
为了在薄膜形成期间跟踪生长表面应力水平的演变,更加深入地探究薄膜应力的产生机理,基于光束偏转法,搭建了利用双光束照射在镀膜基底表面的实时测量光学薄膜应力的装置。装置软件系统从线阵CCD中提取双光斑位移的变化,经过多次测... 为了在薄膜形成期间跟踪生长表面应力水平的演变,更加深入地探究薄膜应力的产生机理,基于光束偏转法,搭建了利用双光束照射在镀膜基底表面的实时测量光学薄膜应力的装置。装置软件系统从线阵CCD中提取双光斑位移的变化,经过多次测量验证了算法的精确度,使装置的精确度达到2.2%,可以满足光学薄膜应力测量的要求。使用此装置跟踪SiO2薄膜镀制过程,得到了应力变化曲线。结果表明,双光束实时测量薄膜应力装置具有抗干扰能力强、精度高等特点,可以为光学薄膜镀制过程中提供有效可行的原位应力测量手段。 展开更多
关键词 薄膜 应力实时测量 光束偏转法 线阵CCD
GaN基多层结构椭偏测试模型优化和光谱研究 预览
10
作者 赵金霞 杜江锋 +3 位作者 彭明明 朱石平 秘暇 夏建新 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2010年第4期 223-227,共5页
利用椭圆偏振测试仪,对n+AlGaN/n-AlGaN/超晶格(SL)/AlN/蓝宝石多层复杂结构的椭偏测试方法进行了研究,其中SL层为AlGaN/GaN多层量子阱结构,将其简化为单层处理。通过改变测试条件进行多次测量,分析了结构模型、算法模型及不同入射... 利用椭圆偏振测试仪,对n+AlGaN/n-AlGaN/超晶格(SL)/AlN/蓝宝石多层复杂结构的椭偏测试方法进行了研究,其中SL层为AlGaN/GaN多层量子阱结构,将其简化为单层处理。通过改变测试条件进行多次测量,分析了结构模型、算法模型及不同入射角度对测试结果的影响,得到了最优测试结构模型和算法模型:粗糙度层(有效介质近似EMA模型)/n+AlGaN(柯西Cauchy模型)/n-AlGaN(Cauchy)/SL(EMA)/AlN(Cauchy)/蓝宝石。选择55°为入射角,在300~800nm波长测试得到了各层膜厚和光学常数谱。结果表明,椭偏测试所得各层膜厚度与工艺给出数据相符,但SL层厚度相对而言有较大偏差,这与其结构复杂性有关,尚待进一步研究。各层折射率色散关系正常,n+AlGaN层折射率与n-AlGaN层折射率相比偏小,这与其较高浓度和较大损伤有关。 展开更多
关键词 氮化镓 氮化铝镓 椭圆偏振测试 光学常数谱 折射率 消光系数
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太阳电池用Cu_2ZnSnS_4薄膜的反应溅射原位生长及表征 被引量:9
11
作者 张坤 刘芳洋 +5 位作者 赖延清 李轶 颜畅 张治安 李劼 刘业翔 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期790-796,共7页
通过直流反应磁控溅射技术,原位生长制备了太阳电池用Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜.采用X射线能量色散谱仪、扫描电镜、X射线衍射仪、紫外可见分光光度计和霍尔效应测试系统对薄膜进行了表征.结果表明,原位生长的CZTS薄膜具有均质、致密和平... 通过直流反应磁控溅射技术,原位生长制备了太阳电池用Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜.采用X射线能量色散谱仪、扫描电镜、X射线衍射仪、紫外可见分光光度计和霍尔效应测试系统对薄膜进行了表征.结果表明,原位生长的CZTS薄膜具有均质、致密和平整的形貌,且由贯穿整个薄膜厚度的柱状颗粒组成.不同基底温度下生长所得薄膜的Cu/(Zn+Sn)值均约为1,而Zn/Sn值均大于1且随着基底温度升高而减小.所得薄膜在(112)方向上择优取向明显,且结构特征受基底温度和Cu/(Zn+Sn)的共同影响.所得薄膜均具有高达104cm-1的光吸收系数,其带隙宽度随着生长温度的增加而降低,并且在500℃时为(1.51±0.01)eV.薄膜的导电类型均为p型,且具有与器件级Cu(In,Ga)Se2(CIGS)相当的载流子浓度. 展开更多
关键词 Cu2ZnSnS4 直流反应磁控溅射 原位生长 太阳电池
软X射线光学系统曲面镀膜膜厚测量方法 预览
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作者 刘毅楠 马月英 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 2000年第2期 124-127,共4页
软X射线光学系统需要在超光滑曲面上均匀镀膜。我们将超光滑曲面看作由若干个小平面拼接而成,通过小角衍射仪测量出各个小平面的周期膜厚,并拟和出整个曲面的镀膜速率。为提高控制精度,我们对同一片多层膜进行等精度多次测量,去除... 软X射线光学系统需要在超光滑曲面上均匀镀膜。我们将超光滑曲面看作由若干个小平面拼接而成,通过小角衍射仪测量出各个小平面的周期膜厚,并拟和出整个曲面的镀膜速率。为提高控制精度,我们对同一片多层膜进行等精度多次测量,去除其中的粗大误差、系统误差,最后得到多层膜厚度的最佳估计值。 展开更多
关键词 软X射线多层膜 曲面基片 误差分析 膜厚测量
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金刚石薄膜中SP2/SP3键价比拉曼光谱分析 预览
13
作者 张兵临 H.M.Phillips 《光散射学报》 1995年第2期 123,112,共2页
金刚石薄膜中SP ̄2/SP ̄3键价比拉曼光谱分析张兵临H,M.Philllips(郑州大学物理系郑州450052)AnalysisofSP ̄2/ SP ̄2/SP ̄3BondingRatioinDiamondThinF... 金刚石薄膜中SP ̄2/SP ̄3键价比拉曼光谱分析张兵临H,M.Philllips(郑州大学物理系郑州450052)AnalysisofSP ̄2/ SP ̄2/SP ̄3BondingRatioinDiamondThinFilmsbyRamanSpectr... 展开更多
关键词 金刚石薄膜 SP^2/SP^3键价比拉曼光谱分析 布里渊中心光学模 拉曼活性模
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各向异性聚合物薄膜参数的测量与计算 被引量:2
14
作者 王志刚 郭士义 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期486-490,共5页
讨论了用单侧漏模法测量薄膜共振漏模的耦合角,计算漏模的有效折射率并由相应的模方程来确定各向异性聚合物薄膜折射率n0,ne及厚度d的方法。对PT-PEK-c膜,测量与计算结果为:n0=1.65250.0014,nc=1... 讨论了用单侧漏模法测量薄膜共振漏模的耦合角,计算漏模的有效折射率并由相应的模方程来确定各向异性聚合物薄膜折射率n0,ne及厚度d的方法。对PT-PEK-c膜,测量与计算结果为:n0=1.65250.0014,nc=1.6439±0.0019,d=2.33±0.32μm。 展开更多
关键词 单侧漏模法 各向异性 聚合物 薄膜 膜参数
外差椭偏纳米薄膜测量技术 预览 被引量:1
15
作者 邓元龙 徐毅 《深圳大学学报:理工版》 CAS 1998年第2期 1-6,共6页
提出一种可同时测量膜厚和折射率的新型快速高灵敏度薄膜测量方法-外差椭偏纳米薄膜测量技术,并给出了理论分析与设计、实验结果和误差分析、采用弱磁场塞曼激光器,用相位直接比较法得到0.18°分辨率,是迄今结果最简单的新... 提出一种可同时测量膜厚和折射率的新型快速高灵敏度薄膜测量方法-外差椭偏纳米薄膜测量技术,并给出了理论分析与设计、实验结果和误差分析、采用弱磁场塞曼激光器,用相位直接比较法得到0.18°分辨率,是迄今结果最简单的新型椭偏仪设计,测量过程高速全自动化,适合于现场连续测量。理论上可达到较高的测量精度。 展开更多
关键词 薄膜 外差技术 纳米测量 椭偏仪 塞曼激光
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金属纳米颗粒的热导率
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作者 黄丛亮 冯妍卉 +3 位作者 张欣欣 李静 王戈 侴爱辉 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期490-494,共5页
本文使用统计模拟方法对金属纳米颗粒的电子平均自由程进行了计算,并考察了纳米颗粒的晶格比热和声子平均群速度,最后应用动力学理论对纳米颗粒的电子热导率和声子热导率分别进行了求解.研究结果表明:具有相同特征尺寸的方形、球形... 本文使用统计模拟方法对金属纳米颗粒的电子平均自由程进行了计算,并考察了纳米颗粒的晶格比热和声子平均群速度,最后应用动力学理论对纳米颗粒的电子热导率和声子热导率分别进行了求解.研究结果表明:具有相同特征尺寸的方形、球形纳米颗粒的无量纲电子(或声子)平均自由程比较接近.金属纳米颗粒的电子热导率远大于声子热导率;电子、声子热导率随着直径减小呈现降低趋势,而电子热导率的颗粒尺度依赖性比声子热导率更为明显;随着颗粒直径进一步减小,声子热导率与电子热导率趋于同一数量级.当纳米颗粒特征尺寸大于4倍块材电子(或声子)平均自由程,其电子(或声子)热导率的颗粒尺度依赖性将减弱. 展开更多
关键词 纳米颗粒 热导率 电子平均自由程 尺度效应
X射线反射法和椭圆偏振法结合测量热处理溶胶-凝胶ZrO2薄膜的结构和光学参数
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作者 贾红宝 孙菁华 +3 位作者 徐耀 吴东 吕海兵 袁晓东 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2013年第1期46-49,59共5页
采用溶胶-凝胶法在硅片基底上制备ZrO2薄膜,在150℃~750℃范围内不同温度下进行热处理,研究了热处理对膜层结构和光学性能的影响。X射线反射用于膜层厚度和界面粗糙度分析,结果表明热处理温度由150℃升至750℃,膜层厚度由常温状态... 采用溶胶-凝胶法在硅片基底上制备ZrO2薄膜,在150℃~750℃范围内不同温度下进行热处理,研究了热处理对膜层结构和光学性能的影响。X射线反射用于膜层厚度和界面粗糙度分析,结果表明热处理温度由150℃升至750℃,膜层厚度由常温状态下的112.3nm减小到34.Onm,表面和界面粗糙度均小于2nm。以X射线反射法测得的膜层厚度为初始值,对椭圆偏振仪的测量结果进行拟合,得到不同温度的膜层折射率,结果表明热处理温度为550℃时膜层折射率达到最大值。X射线反射作为直接的膜层厚度测试手段,所得结果为准确分析椭偏光谱提供了参考。 展开更多
关键词 溶胶-凝胶 二氧化锆 X射线反射法 椭偏光谱法
测量薄膜驻极体内注入电荷平均深度的新方法 预览
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作者 黄晓琴 吴宗汉 欧阳毅 《东南大学学报:自然科学版》 EI CAS CSCD 1991年第6期 98-101,共4页
<正> 不少科学工作者在驻极体注入电荷平均深度的测量方面做了很多工作,但测量所用的设备、技术都很复杂,如激光脉冲法等。若用短路TSC测量,为了保持样品与电极接触良好,必须进行电极涂敷,这样就破坏了原有的电荷分布。为此,我们... <正> 不少科学工作者在驻极体注入电荷平均深度的测量方面做了很多工作,但测量所用的设备、技术都很复杂,如激光脉冲法等。若用短路TSC测量,为了保持样品与电极接触良好,必须进行电极涂敷,这样就破坏了原有的电荷分布。为此,我们用开路TSC方法对双裸面薄膜驻极体注入电荷的深度进行测定,取得了良好的结果。 1实验原理将两面不蒸金的薄膜驻极体置于上、下电极之间,但不与上、下电极相接触(见图1)。在加热过程中,驻极体内的电更多还原 展开更多
关键词 薄膜 驻极体 注入电荷 测量
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零蠕变法测量固—固相界面能研究 预览 被引量:1
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作者 安兵 张同俊 崔崑 《材料导报》 EI CAS CSCD 2002年第4期 19-21,共3页
金属多层膜在高温低应力条件下发生弹性蠕变时,由于膜的塑性流动,使得测量金属固-固相界面能成为可能.介绍了一种测量金属固-固相界面能的方法--零蠕变法,并着重阐述双向零蠕变法的原理和设备,
关键词 测量 固-固相界面 界面能 零蠕变法 金属多层膜 激光曲率法 界面张力 弹性为
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HfO2/SiO2光学薄膜激光损伤阈值的测量 预览 被引量:5
20
作者 胡建平 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第4期 356-358,共3页
参照国际标准ISO11254及其规范,组建了小口径1 064 nm激光的损伤阈值测量装置,能对各种光学元件,包括高反膜、偏振膜及增透膜等进行1 064 nm激光损伤阈值测量.按损伤阈值测量国际标准的要求,测量了由HfO2/SiO2镀制的1 064 nm高反膜、偏... 参照国际标准ISO11254及其规范,组建了小口径1 064 nm激光的损伤阈值测量装置,能对各种光学元件,包括高反膜、偏振膜及增透膜等进行1 064 nm激光损伤阈值测量.按损伤阈值测量国际标准的要求,测量了由HfO2/SiO2镀制的1 064 nm高反膜、偏振膜及增透膜的激光损伤阈值,分析了它们的激光损伤特性,对于10 ns的1 064 nm激光脉冲,高反膜的损伤阈值为12.8 J/cm2,偏振膜为9.8 J/cm2,增透膜为9.2 J/cm2;对于20 ns、1 ns的激光脉冲,高反膜的损伤阈值分别为15.3 J/cm2和5.75 J/cm2.高反膜的损伤阈值对于ns激光脉冲符合时间定标率τ0.35. 展开更多
关键词 光学薄膜 激光 损伤阈值 测量 HfO2/SiO2薄膜
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