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X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统的研制 预览
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作者 杨培菊 沈志强 +2 位作者 黄晓卷 胡霄雪 牛建中 《分析测试技术与仪器》 CAS 2019年第2期111-113,共3页
易风化晶体离开母液就会风化并失去结晶溶剂,导致结构塌陷,由单晶变成粉末,从而无法完成测试.X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统利用晶体在低温下比较稳定的原理,通过维持选样与上样过程中的低温环境,使易风化晶体能够得以测... 易风化晶体离开母液就会风化并失去结晶溶剂,导致结构塌陷,由单晶变成粉末,从而无法完成测试.X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统利用晶体在低温下比较稳定的原理,通过维持选样与上样过程中的低温环境,使易风化晶体能够得以测试,从根本上解决了风化晶体的测试问题.系统的研制为易风化晶体化合物结构的测试提供有力的技术保障,是单晶衍射仪功能开发的重要技术创新. 展开更多
关键词 X-射线单晶衍射仪 单晶 风化晶体 低温
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