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一种电子信息装备模块的故障确认方法及装置 预览
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作者 王帅 肖鹏 +1 位作者 曹离然 侯蛟 《电子信息对抗技术》 2019年第2期78-82,共5页
电子信息装备为了实现功能扩展,方便维护,更多地采用模块化设计,随着系统功能越来越复杂,其模块组成间信号交联也越来越复杂,导致模块出现故障后难于检测和故障定位。提出一种基于检测热台的故障确认方法,检测热台将关联性强的模块组成... 电子信息装备为了实现功能扩展,方便维护,更多地采用模块化设计,随着系统功能越来越复杂,其模块组成间信号交联也越来越复杂,导致模块出现故障后难于检测和故障定位。提出一种基于检测热台的故障确认方法,检测热台将关联性强的模块组成相对独立的功能单元,通过换插模块配合自动测试设备完成模块故障确认,该检测热台装置拓展了同等规模测试系统的应用范围。 展开更多
关键词 ATE 模块 故障确认 寄存器
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基于ATE的功耗分析方法 预览
2
作者 崔海龙 王君从 《中国集成电路》 2019年第8期65-68,共4页
随着集成电路的快速发展,大规模SOC集成电路对于功耗的要求也越来越严格,更加精准的功耗测试有利于SOC集成电路的性能分析,而ATE具备了灵活精准的特点,可以实现任意时刻的功耗测试,本文结合一款SOC集成电路,介绍了一种利用ATE进行功耗... 随着集成电路的快速发展,大规模SOC集成电路对于功耗的要求也越来越严格,更加精准的功耗测试有利于SOC集成电路的性能分析,而ATE具备了灵活精准的特点,可以实现任意时刻的功耗测试,本文结合一款SOC集成电路,介绍了一种利用ATE进行功耗分析的方法。 展开更多
关键词 功耗分析 ATE IC测试
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一种基于FTA的发射装置自动测试和故障诊断系统设计 预览
3
作者 高岚 王伟涛 《计量与测试技术》 2019年第5期20-23,共4页
发射装置自动测试技术主要通过模拟导弹和飞机的导弹发控系统,完成对发射装置的电气功能和性能的定量和定性检测。测试技术中加入FTA故障树进行快速故障分析和诊断,可用于系列产品整机测试和科研试验,以及用于现场可更换单元(LRU)和部... 发射装置自动测试技术主要通过模拟导弹和飞机的导弹发控系统,完成对发射装置的电气功能和性能的定量和定性检测。测试技术中加入FTA故障树进行快速故障分析和诊断,可用于系列产品整机测试和科研试验,以及用于现场可更换单元(LRU)和部件可更换单元(SRU)的故障分析和定位,是发射装置自动测试技术和故障诊断技术的融合创新。 展开更多
关键词 ATE 故障树 发射装置 故障分析
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高速数字集成电路ATE测试中的信道损耗补偿 预览
4
作者 贾谦 张瑞 +1 位作者 张涛 尹萍 《电子世界》 2019年第3期169-170,共2页
在高速数字集成电路的测试过程中,自动测试机台ATE和测试夹具扮演了非常重要的角色。由ATE脚端界面电路带宽限制和测试夹具损耗所形成的信道损耗对测试结果的准确性有重大影响。在本文中笔者针对两种信道损耗补偿的方法——去嵌和均衡,... 在高速数字集成电路的测试过程中,自动测试机台ATE和测试夹具扮演了非常重要的角色。由ATE脚端界面电路带宽限制和测试夹具损耗所形成的信道损耗对测试结果的准确性有重大影响。在本文中笔者针对两种信道损耗补偿的方法——去嵌和均衡,进行了研究并给出一些应用实例和结果。集成电路测试是整个集成电路生产制造流程中非常重要的一环,对于数据速率高达几十Gbps的高速数字集成电路芯片而言更是如此。在高速数字集成电路的测试流程中,自动测试机台(Automatic Test Equipment,ATE)的使用非常广泛。 展开更多
关键词 高速数字集成电路 损耗补偿 测试过程 ATE 信道 集成电路生产 集成电路测试 集成电路芯片
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Hard IP Core Nondestructive Testing Technology 预览
5
作者 Kun Yu Hua Wang 《微电子制造学报》 2019年第2期1-6,共6页
Based on the analysis of the existing hard IP core testing technology, the hard IP core nondestructive testing technology was studied, according to the verification requirements of a large number of hard IP core preci... Based on the analysis of the existing hard IP core testing technology, the hard IP core nondestructive testing technology was studied, according to the verification requirements of a large number of hard IP core precise and fast testing. Combined with the external automatic test equipment (ATE) and the on-chip evaluation circuit, a general evaluation system of simulating user system on chip (SOC) with signal timing calibration and compensation by software and hardware compensation structures were introduced to realize the function, performance and reliability verification of the hard IP core. The design and verification of a random access memory (SRAM) hard IP core based on an on-chip evaluation circuit was actually completed, and the key timing parameters of the hard IP core were tested. The address setup time parameter was taken as an example to analyze the specific testing method and the test results were obtained. With this testing technology, the accuracy of testing the timing parameters of hard IP core can reach pS level, compared with the hard IP core packaged test, the accuracy of the result data is fully reflected. 展开更多
关键词 HARD IP core system on CHIP (SOC) testing technology evaluation circuit MEMORY automatic test equipment (ATE).
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一种高速Serdes接口测试的ATE设计 预览
6
作者 谢翰威 翁雷 史晨迪 《环境技术》 2019年第1期101-106,共6页
随着集成电路产业的高速发展,诸如PCI-Express总线、100GBASE以太网、OIF-CEI背板传输等标准串行接口在集成电路上被广泛应用,接口传输速率已经达到16Gbps~56Gbps。市场上主流的集成电路自动测试设备,已难以满足这类高速Serdes接口测试... 随着集成电路产业的高速发展,诸如PCI-Express总线、100GBASE以太网、OIF-CEI背板传输等标准串行接口在集成电路上被广泛应用,接口传输速率已经达到16Gbps~56Gbps。市场上主流的集成电路自动测试设备,已难以满足这类高速Serdes接口测试需求。因此,为保证Serdes接口的全速测试及高覆盖率的参数级测试,本文设计了一种新的自动化测试系统。其融合了自动测试设备(ATE)与误码测试仪(BERT),实现了高速Serdes接口眼图、抖动、误码率及抖动容限等关键参数的测试,提高了芯片测试覆盖率与结果可信度。 展开更多
关键词 高速串行接口 自动测试设备 误码测试仪 远端回环 SmarTest SCPI
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On the Role of Differentiation Parameter in a Bound State Solution of the Klein-Gordon Equation
7
作者 B.C.Lutfuoglu 《理论物理通讯:英文版》 SCIE CAS CSCD 2019年第3期267-273,共7页
Recently, the bound state solutions of a confined Klein-Gordon particle under the mixed scalar-vector generalized symmetric Woods-Saxon potential in one spatial dimension have been investigated. The obtained results r... Recently, the bound state solutions of a confined Klein-Gordon particle under the mixed scalar-vector generalized symmetric Woods-Saxon potential in one spatial dimension have been investigated. The obtained results reveal that in the spin symmetric limit discrete spectrum exists, while in the pseudo-spin symmetric limit it does not.In this manuscript, new insights and information are given by employing an analogy of the variational principle. The role of the difference of the magnitudes of the vector and scalar potential energies, namely the differentiation parameter,on the energy spectrum is examined. It is observed that the differentiation parameter determines the measure of the energy spectrum density by modifying the confined particle’s mass-energy in addition to narrowing the spectrum interval length. 展开更多
关键词 KLEIN-GORDON equation generalized symmetric Woods-Saxon potential BOUND st ate spectrum spin SYMMETRY limit ANALYTIC solutions
Multiple-Photon-Added and-Subtracted Two-Mode Binomial States:Nonclassicality and Entanglement
8
作者 李开才 孟祥国 王继锁 《理论物理通讯:英文版》 SCIE CAS CSCD 2019年第7期807-812,共6页
We theoretically analyze the nonclassicality and entanglement of two new non-Gaussian entangled states generated by applying multiple-photon addition and subtraction to a two-mode binomial state.The nonclassical prope... We theoretically analyze the nonclassicality and entanglement of two new non-Gaussian entangled states generated by applying multiple-photon addition and subtraction to a two-mode binomial state.The nonclassical properties are investigated in terms of the partial negativity of the Wigner functions,whose results show that their nonclassicality can be enhanced via one-mode even-number photon operations and two-mode symmetrical operations for the initial two-mode binomial state.We also find that there exists some enhancement in the entanglement properties in certain parameter ranges via one-mode photon-addition and two-mode symmetrical operations. 展开更多
关键词 TWO-MODE BINOMIAL st ate photon addition and SUBTRACTION NONCLASSICALITY ENTANGLEMENT
FPGA测试压缩技术研究 预览 被引量:2
9
作者 解维坤 陈龙 +1 位作者 黄晋 肖艳梅 《电子与封装》 2018年第5期8-11,共4页
随着FPGA规模不断增大,配置码越来越大,配置时间也越来越长,因此降低测试时间、提高测试效率具有十分重要的意义。主要从位流压缩和向量加载角度出发,研究了基于多帧写FPGA位流压缩、基于ATE的X模式和Multiport方式的测试压缩等多种测... 随着FPGA规模不断增大,配置码越来越大,配置时间也越来越长,因此降低测试时间、提高测试效率具有十分重要的意义。主要从位流压缩和向量加载角度出发,研究了基于多帧写FPGA位流压缩、基于ATE的X模式和Multiport方式的测试压缩等多种测试压缩方法。以Xilinx公司Virtex-5系列FPGA-XC5VLX155T为例进行了测试验证。测试结果证明,采用测试压缩方法可使单颗FPGA的测试时间至少节省25.5 s,这些方法可大大降低对测试系统向量空间的需求,缩短FPGA的测试配置时间、提高测试效率,同时对其他类型数字电路的测试也有借鉴作用。 展开更多
关键词 FPGA 配置时间 压缩测试 ATE
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基于ATE的ADSP测试 预览
10
作者 武乾文 奚留华 张凯虹 《电子与封装》 2018年第6期12-16,共5页
随着集成电路技术的飞速发展,ADSP的应用越来越广泛,其测试技术得到广泛的重视及研究。简要介绍了ADSP的重要组成部分,提出一种ATE对ADSP测试的方法。ADSP的测试包括功能测试、直流参数测试及交流参数测试,其中功能测试对ADSP是至关重... 随着集成电路技术的飞速发展,ADSP的应用越来越广泛,其测试技术得到广泛的重视及研究。简要介绍了ADSP的重要组成部分,提出一种ATE对ADSP测试的方法。ADSP的测试包括功能测试、直流参数测试及交流参数测试,其中功能测试对ADSP是至关重要的。以ADSP-TS201S为例,其功能测试是通过Ultra Edit软件编辑生成测试码,导入测试仪器,对被测器件进行地址叠加操作,以检查其功能。主要讲述ADSP功能及交流参数测试的关键技术及其注意事项。 展开更多
关键词 ATE ADSP 测试 功能 交流参数
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优化电性能测试对提高Over-Bonding检测能力的研究 预览
11
作者 顾盛光 王友彬 《中国集成电路》 2018年第10期50-53,共4页
由于铜线的巨大成本优势以及键合工艺的不断改进,铜线引线键合已经逐渐成为半导体工艺的主流,但是由于铜线本身的物理化学特性,随之产生的焊球脱落(Lift Ball Bond,LBB)、过键合(Over-bonding)等失效模式也给业界带来了新的困扰。... 由于铜线的巨大成本优势以及键合工艺的不断改进,铜线引线键合已经逐渐成为半导体工艺的主流,但是由于铜线本身的物理化学特性,随之产生的焊球脱落(Lift Ball Bond,LBB)、过键合(Over-bonding)等失效模式也给业界带来了新的困扰。业界通过增加保护气体防止键合过程中铜球被氧化、优化键合步骤等措施已经能较好地控制LBB的产生。但是如何减少以及控制0ver-bonding目前还没有较好且统一的方法。所以如何在后期的电性能测试(ATE)过程中,通过优化测试参数以便更好的检测到Over-bonding就显得尤为重要了。本文以普通BJT(T0357)为例,介绍了一些针对测试参数的分析来检测Over-bonding的研究。 展开更多
关键词 焊球脱落 铜线引线键合 Over-bonding ATE
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数字电位器自动测试实现 预览
12
作者 陈章涛 袁云华 《电子与封装》 2018年第A01期25-30,共6页
数字电位器以其调节方便、使用寿命长、受物理环境影响小、性能稳定等特点,已被广大电子工程技术人员所熟悉,尤其是在音频产品、控制领域等的应用越来越受到人们的重视。以X95840为例介绍数字电位器的特性及工作原理,并将DAC测试原... 数字电位器以其调节方便、使用寿命长、受物理环境影响小、性能稳定等特点,已被广大电子工程技术人员所熟悉,尤其是在音频产品、控制领域等的应用越来越受到人们的重视。以X95840为例介绍数字电位器的特性及工作原理,并将DAC测试原理和方法运用到电参数测试之中,提出数字电位器在集成电路自动测试系统ATE上的实现方案,实现自动测试。 展开更多
关键词 数字电位器 自动测试 ATE
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Match loop测试方法研究 预览
13
作者 崔海龙 田爱国 《数字技术与应用》 2018年第4期112-113,共2页
在数字芯片测试中,当遇到芯片的数据输出时间点不确定的情况时,测试仪无法编写严格时序的测试向量,而采用match loop向量编程的测试方法可有效的解决以上问题。本文分析了两种基本match loop方法,针对一款基带芯片,采用match loop测试... 在数字芯片测试中,当遇到芯片的数据输出时间点不确定的情况时,测试仪无法编写严格时序的测试向量,而采用match loop向量编程的测试方法可有效的解决以上问题。本文分析了两种基本match loop方法,针对一款基带芯片,采用match loop测试方法进行了详细的分析,最终完成测试。 展开更多
关键词 ATE MATCH LOOP 数字芯片测试 时钟同步
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基于ATE的FPGA测试技术研究和应用 预览 被引量:1
14
作者 王华 《电子与封装》 2018年第7期12-15,21共5页
随着集成电路技术的高速发展,基于可编程互连资源的现场可编程门阵列(FPGA)器件的应用越来越广泛,FPGA区别于ASIC器件的重要特征是可以实现在制造后重新编程为所需的应用或功能要求。随着FPGA的规模不断扩大,对其故障检测、可靠性验... 随着集成电路技术的高速发展,基于可编程互连资源的现场可编程门阵列(FPGA)器件的应用越来越广泛,FPGA区别于ASIC器件的重要特征是可以实现在制造后重新编程为所需的应用或功能要求。随着FPGA的规模不断扩大,对其故障检测、可靠性验证的要求也越来越高。介绍了FPGA在自动测试设备(ATE)上的测试流程,详细介绍了如何通过硬件设计和软件方法在Advantest公司V93000自动测试设备上实现最大矢量深度扩展,最后通过Virtex-4 FPGA实际实施案例验证了该方案。 展开更多
关键词 FPGA测试 ATE 配置矢量 激励矢量 自动测试
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基于ATE的FLASH型FPGA测试方法研究 预览
15
作者 张金凤 唐金慧 马成英 《电子世界》 2018年第10期46-47,共2页
FLASH型FPGA以其高可靠性、高安全性、上电即可运行的特点,在军工和航天领域中得到了广泛的应用,但其复杂的结构对测试的可靠性和准确性提出了更高的要求,因此对其测试技术和方法的研究就显得尤为重要。本文分析了FLASH型FPGA芯片的结... FLASH型FPGA以其高可靠性、高安全性、上电即可运行的特点,在军工和航天领域中得到了广泛的应用,但其复杂的结构对测试的可靠性和准确性提出了更高的要求,因此对其测试技术和方法的研究就显得尤为重要。本文分析了FLASH型FPGA芯片的结构及特点,并以ACTEL公司ProASIC3系列FPGA为研究对象,详尽研究了输入输出模块(IOB)、可编程逻辑单元(Tiles)、内嵌RAM模块(BRAM)、时钟调整电路模块(CCC)、1kbit Flash ROM等五个主要模块的测试方法。 展开更多
关键词 FPGA测试 ATE ProASIC3
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测试成本的挑战及对策 预览 被引量:1
16
作者 章慧彬 《电子与封装》 2018年第5期5-7,11共4页
集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装、测试、可靠性等,每个环节都极易引入缺陷,因此每一件半导体产品在交付客户之前都必须经过极为严苛的测试过程,以排除任何可能的缺陷。大量的测试需求使得测试成本越来越高。寻求一种测... 集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装、测试、可靠性等,每个环节都极易引入缺陷,因此每一件半导体产品在交付客户之前都必须经过极为严苛的测试过程,以排除任何可能的缺陷。大量的测试需求使得测试成本越来越高。寻求一种测试方法既能保证芯片质量和可靠性,又能有效控制测试成本,是当前降低测试成本面临的主要挑战。从测试经济学、集成电路产业链发展对测试成本的影响以及可测性设计技术三个方面,介绍了测试成本的挑战和应对措施。 展开更多
关键词 测试成本 自动化测试设备 可测性设计 内建自测试
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因果图法在ATE软件测试用例设计中的应用 预览
17
作者 马艳 《计算机与网络》 2018年第1期69-71,共3页
针对黑盒测试用例设计完备性问题,从充分考虑输入条件的各种组合、输入条件之间的相互制约关系出发,提出了基于因果图的软件测试用例设计方法。与传统的测试用例生成算法相比,该方法可以准确、全面地覆盖各种条件组合,生成高效的测试用... 针对黑盒测试用例设计完备性问题,从充分考虑输入条件的各种组合、输入条件之间的相互制约关系出发,提出了基于因果图的软件测试用例设计方法。与传统的测试用例生成算法相比,该方法可以准确、全面地覆盖各种条件组合,生成高效的测试用例集,可以提高软件测试质量,减少软件测试时间,提高软件测试效率。在某型自动化测试设备的软件测试中,生成测试用例36个,具有广阔的军事应用前景。 展开更多
关键词 自动化测试设备 因果图 测试用例 黑盒测试
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与野生的南澳岛主确认眼神
18
作者 王吕彦 《旅行者》 2018年第7期18-23,共6页
闭上眼睛想象以下场景:在大海里与海狮对上眼,海豚从身下滑过后跃出海面,考拉刚醒来就对着你挠耳朵,你会是怎样的心情?借着2018年4月16日,ATE澳大利亚旅游交易会的开幕,我们有幸在举办地南澳大利亚的阿德莱德及周边畅游一番,与... 闭上眼睛想象以下场景:在大海里与海狮对上眼,海豚从身下滑过后跃出海面,考拉刚醒来就对着你挠耳朵,你会是怎样的心情?借着2018年4月16日,ATE澳大利亚旅游交易会的开幕,我们有幸在举办地南澳大利亚的阿德莱德及周边畅游一番,与野生动物近距离疯玩了一把! 展开更多
关键词 野生动物 南澳岛 眼神 澳大利亚 旅游交易会 ATE 举办地 近距离
精准定位产业需求,实现ATE多任务并行检测 预览
19
作者 龚略 《数字通信世界》 2018年第11期77-77,76共2页
最近几年,亚洲电子行业飞速发展,许多国际大型IDM的业务逐渐转移到亚洲,让国内半导体测试行业迎来了新的机遇和挑战。我国半导体集成电路测试技术领域杰出专家,上海宏测半导体科技有限公司研发总监郑传俊介绍说:“测试设备业的发展和集... 最近几年,亚洲电子行业飞速发展,许多国际大型IDM的业务逐渐转移到亚洲,让国内半导体测试行业迎来了新的机遇和挑战。我国半导体集成电路测试技术领域杰出专家,上海宏测半导体科技有限公司研发总监郑传俊介绍说:“测试设备业的发展和集成电路设计业与封测业的发展相辅相成,这是全球集成电路产业的共有规律。全球最大的两家集成电路测试设备企业,美国泰瑞达和日本爱德万都是既依附于本国强大的集成电路产业,同时也为本国产业提供高质量的测试设备服务。” 展开更多
关键词 集成电路产业 并行检测 多任务 ATE 集成电路测试 集成电路设计业 定位 测试设备
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硬件系统自动化测试的多视角建模及案例研究 预览
20
作者 孟翰 吴际 +3 位作者 胡京徽 刘超 杨海燕 孙新颖 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2018年第9期75-80,共6页
针对硬件设备的自动测试设备(ATE)的开发通常是一个冗长、耗时的任务,开发者需要向来自不同领域的专业人员了解被测设备的外部端口、信号、测试流程和信号检查等多种类型的信息,逐步确定开发需求。在该过程中,ATE的开发人员面临的最大... 针对硬件设备的自动测试设备(ATE)的开发通常是一个冗长、耗时的任务,开发者需要向来自不同领域的专业人员了解被测设备的外部端口、信号、测试流程和信号检查等多种类型的信息,逐步确定开发需求。在该过程中,ATE的开发人员面临的最大困难是缺乏一种规范的模型,以描述由不同合作方提供的测试信息,导致产出的测试文档篇幅长、不易理解,容易出现错误等问题。文中提出面向ATE领域的多视角建模方法来规范化地描述ATE中的测试信息并检查信息的一致性,最后以真实工业案例说明其有效性。 展开更多
关键词 自动测试设备 测试文档 多视角建模方法 一致性
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